
Ваша оценка0
(0)
Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного контакта. Измерения проводятся на образцах германия и кремния. В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата. Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной установки, изложена методика проведения экс...
Жанры
Рейтинг LiveLib
0
0 оценок
Ваша оценкаАлександр Бобков, Леонид Бобков
0
(0)


















