Ваша рецензия

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Джи Лиу, М. Дэвид Фрей, Джон Уайли, Дэвид Джой, Ксудонг Уанг, Жонг Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Бор