Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Джи Лиу, М. Дэвид Фрей, Джон Уайли, Дэвид Джой, Ксудонг Уанг, Жонг Уанг, Уэйли Жу, Пенг Уанг, А. Бор
- Издательство:Лаборатория Знаний
- ISBN:978-5-00101-142-2
- Год издания:2006
- Язык:Русский